Titre : Caractérisation des matériaux et technologies semiconducteurs : comptes rendus du Colloque : Grenoble 27,28,29 septembre 1972


Denis Lafeuille. Editeur scientifique
Colloque sur la caractérisation des matériaux et les technologies semiconducteurs ; 1972 ; Grenoble
France. Délégation générale à la recherche scientifique et technique
Grenoble
Laboratoire d'électronique et de technologie de l'informatique
[1973?]
1 vol. (684 p.) : ill. ; 24 cm

xx Semiconducteurs-- Congrès

Techniques de diffraction : rayons X, microscopie électronique par transmission, analyseur ionaique de Castaing-Slodzian, réactions nucléaires et techniques connexes, spectrométrie infrarouge et techniques de luminescence, spectrométrie de masse à étincelles radioactivation microscopie electronique à balayage autres techniques, caractérisation électrique

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Bib. Evry   EMC 983