Titre : Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique


Jean-Pierre Eberhart
1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 26 cm

xx Radiocristallographie
xx Matériaux-- Analyse
xx Rayons X-- Diffraction
xx Électrons-- Diffusion
xx Matériaux-- Structure
xx Surfaces (technologie)-- Analyse
xx Spectroscopie
xx Microscopie électronique-- Technique
2-04-018797-9

Interaction rayonnements-matière. Aspects théoriques. Techniques de production et de mesure des rayonnements. Applications de la diffraction des rayonnements à l'étude des matériaux. Applications de la spectrométrie des rayons X, des électrons et des ions secondaires. Techniques de microscopie électronique
Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index

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