Titre : Advanced tomographic methods in materials research and engineering


John Banhart. Editeur scientifique
Oxford New York
Oxford University Press
cop. 2008
1 vol. (XXV-462 p.) : ill. en noir et en coul. ; 24 cm + 1 CD-ROM

xx Tomographie
xx Matériaux-- Essais
xx Contrôle non destructif
978-0-19-921324-50-19-921324-0

Basic concepts. Synchrotron x-ray tomography. Electron tomography. Neutron tomography
Notes bibliogr. Index

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Bib. Evry   EMC 4563