Titre : Accuracy in trace analysis : sampling, sample handling, analysis : proceedings of the 7th materials research symposium, held at the National Bureau of Standards, Gaithersburgh, Md., october 7-11, 1974


Philip D. LaFleur (193X-). Editeur scientifique
. National bureau of standards
Washington
U.S. Government printing office
1976
2 vol. ([XXVI]-1304 p.) : ill. en noir et en coul., fig., graph., tabl ; 24 cm

xx Éléments traces-- Analyse -- Actes de congrès
xx Chimie analytique-- Actes de congrès

Références en fin de chapitre

Exemplaires

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LocalisationCoteSituation
Bib. Fontainebleau   F 21859-8 (1)
Bib. Fontainebleau   F 21859-8 (2)