Electron microscopy and analysis, 1985 (Record no. 124887)

005 - numéro d'identification de la version
identification de la version 20190729220507.0
009 - PPN
PPN 005163471
010 ## - ISBN
ISBN 0-85498-169-1
035 ## -
-- sib0053129
035 ## -
-- 912282301
-- 124887
099 ## - Informations locales
date creation notice (koha) 2009-07-20
date modification notice (koha) 2019-07-29
100 ## - données générales de traitement
données générales de traitement 19860724d1986 ||||0frey50 ba
200 1# - titre
Titre propre Electron microscopy and analysis, 1985
Complément du titre proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference held at the University of Newcastle upon Tyne, 2-5 September 1985 (EMAG 85)
Auteur principal ed. by G.J. Tatlock
210 ## - éditeur
Lieu de publication Bristol [etc.]
Nom de l'éditeur A. Hilger
Date de publication cop. 1986
215 ## - description
Caractéristiques matérielles xvi, 592 p
Format 24 cm
300 ## - note
texte de la note EMAG 85
320 ## - note
texte de la note Notes bibliogr. Index
517 ## - autres variantes du titre
Variante du titre EMAG 85
610 ## - sujets
sujet Spectrométrie perte énergie
610 ## - sujets
sujet Graphite
610 ## - sujets
sujet Carbone
610 ## - sujets
sujet Surface
610 ## - sujets
sujet Structure
610 ## - sujets
sujet Polymère
610 ## - sujets
sujet Céramique
610 ## - sujets
sujet Semiconducteur
610 ## - sujets
sujet Métal
610 ## - sujets
sujet Haute résolution
610 ## - sujets
sujet Microanalyse
610 ## - sujets
sujet Spectrométrie électron
610 ## - sujets
sujet MICROSCOPIE ELECTRONIQUE HAUTE TENSION
610 ## - sujets
sujet Microscope électronique
610 ## - sujets
sujet Microscopie électronique balayage
610 ## - sujets
sujet Microscopie électronique
606 ## - Mot Matière
-- ba0yba0y
-- frefre
Element d'entrée Microchimie
Numéro de notice d'autorité 027337502
-- 02886431X
Subdivision de sujet Congrès
Code du système d'indexation rameau
606 ## - Mot Matière
-- ba0yba0y
Element d'entrée Microscopie électronique
Numéro de notice d'autorité 027579069
-- 02886431X
Subdivision de sujet Congrès
Code du système d'indexation rameau
702 #1 - nom de personne - mention de responsabilité secondaire
élément d'entrée Tatlock
partie du nom autre que l'élément d'entrée G.J
code de fonction Editeur scientifique
712 12 - collectivité - mention de responsabilité secondaire
Elément d'entrée Institute of Physics
Elément ajouté au nom ou qualificatif London
Subdivision Electron Microscopy and Analysis Group
-- Conference
Date du congrès 1985
Lieu du congrès Newcastle upon Tyne, GB
801 #3 - source de catalogage
Date de la transaction 19990514
930 ## -
-- 912282301:417704046
-- 912282301
-- EMC 2655
-- g
991 ## -
-- 912282301:417704046
-- exemplaire créé automatiquement par l'ABES
Holdings
Perdu Origine geographique du document Localisation cote Statut de l'exemplaire note sur l'exemplaire
Présent Bib. Evry Bib. Evry EMC 2655 Sur demande Bibliotheque de Corbeil

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