XRD and electron-microscopy investigations of layer silicates (Record no. 90695)

099 ## - Informations locales
date creation notice (koha) 2005-10-26
date modification notice (koha) 2019-07-29
100 ## - données générales de traitement
données générales de traitement d1998 k y ENGy0103 ba frey50
200 ## - titre
Titre propre XRD and electron-microscopy investigations of layer silicates
indication générale du type de document [Texte imprimé]
Auteur principal préf., Robert F. Martin
210 ## - éditeur
Lieu de publication Toronto (CAN)
Nom de l'éditeur Mineralogical association of Canada
Date de publication 1998
215 ## - description
Caractéristiques matérielles P. 1395-1647
Autres caractéristiques Ill.
Format 24 cm
300 ## - note
texte de la note Numéro thèmatique de "The canadian mineralogist", 1998, vol.36, part.6
320 ## - note
texte de la note Notes bibliogr.
463 ## - niveau de l'unité matérielle
Titre Canadian mineralogist Journal of the Mineralogical association of Canada
numéro de volume 1998, vol.36, part.6
610 ## - sujets
sujet Diagenèse
610 ## - sujets
sujet Diffraction RX
610 ## - sujets
sujet Kaolinite
610 ## - sujets
sujet Microscopie électronique
610 ## - sujets
sujet Particule fondamentale
610 ## - sujets
sujet Smectite
615 ## - catégorie sujet
Catégorie MINERALOGIE
676 ## - classification
indice Dewey 549.6
702 ## - nom de personne - mention de responsabilité secondaire
Lien 224908
partie du nom autre que l'élément d'entrée Robert F.
élément d'entrée Martin
code de fonction Préfacier, etc.
712 ## - collectivité - mention de responsabilité secondaire
Elément d'entrée Association minéralogique du Canada
Code Koha Interne 243506
Code de fonction Editeur scientifique
Holdings
Perdu Origine geographique du document Localisation cote emplacement Statut de l'exemplaire Propri
Présent Bib. Fontainebleau Bib. Fontainebleau EMF P388(36:6) Magasin Empruntable Bibliothèque de Fontainebleau

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