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/ J. Nazon, V. Flaud, M.H. Berger [et al.]Microstructural characterization of TaN coatings

Auteur principal : Nazon, J.;Flaud, V.;Berger, Marie-Hélène, 1962-....Auteur secondaire collectivité : ENSMP MAT, Centre des matériaux, Evry, EssonnePublication :ENSMP, 2008Description : 1 vol. (P. 404-409) : Ill. ; 30 cmBibliographie: Bibliogr. p. 408-409.Sujet : Tantale ;Nitrure ;Microstructure ;Diffraction RX ;Microscopie électronique balayage ;Revêtement métallique Sujet Catégorie : MATERIAUX
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Paris
EMP 157.116 CCL.6056 Available EMP49393D

Extr. de : "Surface modification technologies XXI", Proceedings of the 21st International conference on surface modification technologies, Paris, Sept. 24-26, 2008

Bibliogr. p. 408-409

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