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Software reliability : measurement, prediction, application / John D. Musa, Anthony Iannino, Kazuhira Okumoto

Auteur principal : Musa, John D.Co-auteur : Iannino, Anthony, AuteurAuteur secondaire : : Okumoto, KazuhiraPublication :New York : McGraw-Hill, c1987Description : xvii, 621 p. : ill. ; 25 cmISBN : 0-07-044093-X.Dewey: 005.1/4Bibliographie: Bibliography: p. 593-599..Sujet : FIABILITE ;GENIE LOGICIEL Sujet Catégorie : H-INF.TH
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USA .

Bibliography: p. 593-599.

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