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1994 ACM SIGMETRICS Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems : proceedings, May 16-20, 1994, Vanderbilt University, Nashville, Tennessee, USA / @Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems

Auteur principal collectivité : Conference on Measurement and Modeling of Computer Systems, 1994, AuteurAuteur secondaire collectivité : ACM-SigmetricsPublication :New York, N.Y. : Association for Computing Machinery, c1994Description : xi, 294 p. : ill. ; 28 cmISBN : 0-89791-659-X.Collections : Performance evaluation review, v. 22, no. 1 (May 1994)Dewey: 004.24Bibliographie: Includes bibliographical references and index..Sujet - Nom d'actualité : Simulation par ordinateur ;Ordinateurs -- Évaluation Sujet : Base de données ;MODELISATION
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Includes bibliographical references and index.

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