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Automated technology for verification and analysis [Texte imprimé] : Third international symposium, ATVA 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005 : proceedings / Doron A. Peled, Yih-Kuen Tsay (Eds.)

Auteur principal collectivité : International Symposium on Automated Technology for Verification and Analysis, 3rd, 2005, AuteurAuteur secondaire : : Peled, Doron A., 1962-..., Editeur scientifique;Tsay, Yih-Kuen, Editeur scientifiqueLangue :de résumé, Anglais.Publication :Berlin, New York, NY : Springer, cop. 2005Description : 1 vol. (XII-506 p.) : ill. ; 24 cmISBN : 3-540-29209-8.Collections : Lecture notes in computer science, 3707Bibliographie: Contient des notes bibliogr. Index.Sujet - Nom d'actualité : Conception technique -- Informatique -- Congrès ;Informatique -- Recherche ;Conception assistée par ordinateur -- Congrès Sujet : TEST ;RESEAU DE PETRI ;LOGICIEL SYSTEMC ;LANGAGE ESTEREL ;ANALYSE SEMANTIQUE ;Langage JAVA ;Modèl Checking
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Contient des notes bibliogr. Index

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