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Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. Wittry

Auteur principal collectivité : International Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 8th, 1977, AuteurAuteur secondaire : : Beaman, Donald Robert, Editeur scientifique;Ogilvie, Robert E., Editeur scientifique;Wittry, David B., Editeur scientifiqueAuteur secondaire collectivité : Microbeam analysis society, Etats-Unis, Editeur scientifiquePublication :Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmISBN : 0-87812-180-3.Dewey: 621.361, 22Bibliographie: Références bibliogr..Sujet - Nom d'actualité : Microradiographie -- Congrès ;Sondes électroniques -- Congrès ;Microchimie -- Congrès ;Rayons X -- Congrès Sujet : Spectrométrie SIMS ;Spectrométrie RX ;Spectrométrie perte énergie ;Spectrométrie dispersive ;Sonde électronique ;Microscopie électronique ;Microanalyse ;Matériau ;Appareillage ;Analyse surface ;Analyse quantitative
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 2126 Sur demande Bibliotheque de Corbeil

Références bibliogr.

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