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Electron microscopy and analysis, 1979 : proceedings of the Institute of physics Electron microscopy and analysis group conference held at the University of Sussex, Brighton, 3-6 September 1979 (EMAG 79) / ed. by T. Mulvey

Auteur secondaire : : Mulvey, Thomas, Editeur scientifiqueAuteur secondaire collectivité : Institute of Physics, London, Electron microscopy and analysis group, Conference, 1979Publication : Bristol, London : Institute of physics, cop. 1980Description : XV-472 p : ill ; 24 cmISBN : 0-85498-143-8.Dewey: 502/.8/25Bibliographie: Bibliogr. : en fin de chapitre. Index.Sujet - Nom d'actualité : Analyse par microsonde -- Congrès ;Analyse par microsonde ;Surfaces (technologie) -- Congrès ;Microscopie électronique -- Congrès ;Minéralogie -- Congrès Sujet : Minéral ;Microscopie électronique ;Microscope électronique ;Microanalyse ;Matériau ;Haute résolution ;Appareillage ;Analyse surface
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 1953 Sur demande Bibliotheque de Corbeil

EMAG 1979

Bibliogr. : en fin de chapitre. Index

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