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Electron microscopy.1980.vol.3 : Analysis

Publication :Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmISBN : 90-900014-8-4.Sujet : Matériau ;Microscopie électronique ;Microanalyse ;Spectrométrie dispersive ;Cathodoluminescence ;Analyse quantitative ;Spectrométrie photoélectron ;Spectrométrie Auger ;Spectrométrie SIMS ;Spectrométrie perte énergie
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Bib. Evry
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Eurem 80/ICXOM

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