Typical electron microscope investigations / [by] J. W. Edington
Auteur principal : Edington, Jeffrey WilliamPublication :London : Macmillan, 1976Description : [8], 112 p. : ill. ; 30 cmISBN : 0-333-18640-0.Dewey: 620.1/1299Bibliographie: Includes bibliographies..Sujet - Nom d'actualité : Alliages Sujet : Préparation échantillon ;Non métal ;Microscopie électronique ;Microscope électronique ;Métal ;Diffraction électron| Current location | Call number | Status | Notes | Date due | Barcode |
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| Bib. Evry | EMC 2652 (2) | Sur demande | Bibliotheque de Corbeil |
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