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Electron beam analysis of materials [] / M.H. Loretto

Auteur principal : Loretto, M.HPublication :London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmISBN : 0-412-23400-9 ; 0-412-23390-8.Dewey: 620.1/127Bibliographie: Index.Sujet - Nom d'actualité : Faisceaux électroniques -- Applications scientifiques ;Microchimie ;Matériaux -- Analyse ;Microscopie électronique Sujet : Technique ;Spectrométrie RX ;Spectrométrie électron ;Spectrométrie Auger ;Microsonde électronique ;Microscopie électronique ;Matériau ;Diffraction électron ;Appareillage ;Analyse quantitative
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 2625 Sur demande Bibliotheque de Corbeil EMC 2625

Introduction to electron beam instruments. Electron specimen interactions. Layout and operational modes of electron beam instruments. Interpretation of diffraction information. Analysis of micrographs in TEM, STEM, HREM and SEM. Interpretation of analytical data

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