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Electron beam x-ray microanalysis [] / Kurt F. J. Heinrich

Auteur principal : Heinrich, Kurt F. J.Publication :New York : Van Nostrand Reinhold Co., c1981Description : xxiii, 578 p., [4] leaves of plates : ill. ; 24 cmISBN : 0-442-23286-1.Dewey: 543/.0812 ; 621.631Bibliographie: Includes bibliographical references and indexes..Sujet : Technique ;Spectrométrie RX ;Sonde électronique ;Microanalyse ;Appareillage ;Analyse quantitative
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 2091 Sur demande Bibliotheque de Corbeil EMC 2091

Includes bibliographical references and indexes.

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