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Electron Beam Microanalysis [] / D. R. Beaman, J. A. Isasi

Auteur principal : Beaman, D. R.Co-auteur : Isasi, J. A., AuteurPublication :[S. l.] : American Society for Testing and Materials, 1972Description : 1 vol. (79 p.)Sujet : Microanalyse ;Faisceau électronique ;Appareillage ;Technique ;Sonde électronique ;Microscopie électronique ;Spectrométrie Auger ;Analyse quantitative
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 197 Sur demande Bibliotheque de Corbeil

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