Applications of electron microfractography to materials research [Texte imprimé] / a symposium presented at the seventy-third annual meeting, American Society for Testing and Materials, Toronto, Ont., Canada, 21-26 June 1970
Auteur principal collectivité : Symposium on Applications of Electron Microfractography to Materials Research, 1970, AuteurAuteur secondaire collectivité : American society for testing and materials, Editeur scientifiquePublication : Philadelphia : American Society for Testing and Materials, cop. 1971Description : 1 vol. (96 p.) : ill. ; 23 cmCollections : ASTM special technical publication 493Dewey: 620.1, 21Bibliographie: Bibliogr..Sujet - Nom d'actualité : Fractographie -- Actes de congrès ;Microscopie électronique -- Actes de congrès Sujet : Matériau ;Fractographie ;Microscopie électronique ;MICROFRACTURE ;Rupture ;Métal ;Acier ;Surface rupture| Current location | Call number | Status | Notes | Date due | Barcode |
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