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Fundamentals of surface and thin film analysis [] / Leonard C. Feldman,... James W. Mayer,...

Auteur principal : Feldman, Leonard C.Co-auteur : Mayer, James W., 1930-...., AuteurPublication :New York (N. Y.), [etc.] : North -Holland, cop. 1986Description : 1 vol. (xviii-352 p.) : ill ; 24 cmISBN : 0-444-00989-2.Dewey: 530.4/1Bibliographie: Notes bibliogr. Index.Sujet - Nom d'actualité : Couches minces -- Analyse ;Surfaces (technologie) ;Spectroscopie électronique Sujet : Méthode analyse ;ANALYSE ACTIVATION ;Spectrométrie Auger ;Spectrométrie photoélectron ;Spectrométrie électron ;Spectrométrie SIMS ;Rétrodiffusion ;Structure surface ;Couche mince ;Analyse surface ;Matériau
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 2724 Sur demande Bibliotheque de Corbeil

Notes bibliogr. Index

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