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Caractérisation des matériaux et technologies semiconducteurs [Texte imprimé] : comptes rendus du Colloque : Grenoble 27,28,29 septembre 1972 / édité pour le compte de la D.G.R.S.T. par Denis Lafeuille ; organisé par la Délégation générale à la recherche scientifique et technique

Auteur principal collectivité : Colloque sur la caractérisation des matériaux et les technologies semiconducteurs, 1972, AuteurAuteur secondaire : : Lafeuille, Denis, Editeur scientifiqueAuteur secondaire collectivité : France, Délégation générale à la recherche scientifique et technique, Organisateur de réunion, Editeur scientifiquePublication : Grenoble : Laboratoire d'électronique et de technologie de l'informatique, [1973?]Description : 1 vol. (684 p.) : ill. ; 24 cmSujet - Nom d'actualité : Semiconducteurs -- Congrès Sujet : Méthode étude ;Méthode analyse ;Caractérisation ;Semiconducteur
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Bib. Evry
EMC 983 Sur demande Bibliotheque de Corbeil EMC 983

Techniques de diffraction : rayons X, microscopie électronique par transmission, analyseur ionaique de Castaing-Slodzian, réactions nucléaires et techniques connexes, spectrométrie infrarouge et techniques de luminescence, spectrométrie de masse à étincelles radioactivation microscopie electronique à balayage autres techniques, caractérisation électrique

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