Normal view MARC view ISBD view

Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...

Auteur principal : Eberhart, Jean-PierrePublication : Dunod • C 1989Description : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 26 cmISBN : 2-04-018797-9.Dewey: 543.5Bibliographie: Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index.Sujet - Nom d'actualité : Radiocristallographie ;Matériaux -- Analyse ;Rayons X -- Diffraction ;Électrons -- Diffusion ;Matériaux -- Structure ;Surfaces (technologie) -- Analyse ;Spectroscopie ;Microscopie électronique -- Technique Sujet : Spectrométrie ;Microscopie électronique ;Matériau ;Diffraction RX ;Analyse structure ;Analyse chimique ;Diffraction électron ;Diffraction neutron ;Diffraction RX ;Matériau ;Méthode analyse ;Microscopie électronique ;Spectrométrie électron ;Spectrométrie ion ;Spectrométrie RX ;Structure List(s) this item appears in: doubles cellule 6
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 3018 Sur demande Bibliotheque de Corbeil
Bib. Evry
EMC 3039 Sur demande Bibliotheque de Corbeil EMC 3039
Sophia Antipolis
Salle de lecture
EMS 761-A02/N 11353 Checked out 07/09/2020 EMS04882D

Interaction rayonnements-matière. Aspects théoriques. Techniques de production et de mesure des rayonnements. Applications de la diffraction des rayonnements à l'étude des matériaux. Applications de la spectrométrie des rayons X, des électrons et des ions secondaires. Techniques de microscopie électronique

Bibliogr. p. 597-603. Notes bibliogr. en fin de chapitres. Index

Powered by Koha