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Analyse structurale et chimique des matériaux [] : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...

Auteur principal : Eberhart, Jean-PierrePublication :Paris : Dunod, cop. 1989, 54-Nancy : Impr. Berger-LevraultDescription : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill.en coul. ; 26 cmISBN : 2-04-018797-9.Dewey: 543.5Bibliographie: Notes bibliogr. Bibliogr. p. 597-603. Index.Sujet - Nom d'actualité : Radiocristallographie ;Électrons -- Diffusion ;Surfaces (technologie) -- Analyse ;Matériaux -- Analyse ;Matériaux -- Structure ;Rayons X -- Diffraction ;Cristallographie ;Microscopie électronique -- Technique ;Spectroscopie Sujet : Structure ;Spectrométrie RX ;Spectrométrie ion ;Spectrométrie électron ;Microscopie électronique ;Méthode analyse ;Matériau ;Diffraction RX ;Diffraction neutron ;Diffraction électron ;Analyse chimique ;Analyse structure ;Diffraction RX ;Matériau ;Microscopie électronique ;Spectrométrie List(s) this item appears in: doubles cellule 6
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Bib. Evry
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Interaction rayonnements-matière. Aspects théoriques. Techniques de production et de mesure des rayonnements. Applications de la diffraction des rayonnements à l'étude des matériaux. Applications de la spectrométrie des rayons X, des électrons et des ions secondaires. Techniques de microscopie électronique

Notes bibliogr. Bibliogr. p. 597-603. Index

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