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Microstructural and microanalytical techniques in materials science

Publication :Les Ulis : Editions de physique, 1995Description : 443-701 p. ; 24 cmSujet : Diffraction électron ;Diffraction RX ;Haute résolution ;Matériau ;Méthode faisceau convergent ;Microanalyse ;Microscopie électronique ;Microscopie optique ;Microstructure ;Rétrodiffusion Rutherford ;Spectrométrie SIMS
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