Normal view MARC view ISBD view

Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials [] / J.A Belk

Auteur secondaire : : Belk, J. A., AuteurPublication : London : Applied Science Publishers, c1979Description : 1vol.(x-240p.) : ill ; 23cmISBN : 0-85334-816-2.Dewey: 548/.8Bibliographie: Includes bibliographical references and index..Sujet - Nom d'actualité : Cristallographie Sujet : Appareillage ;Diffraction électron ;Matériau cristallin ;Métal ;Microanalyse ;Microscopie électronique ;Spectrométrie RX ;Structure surface
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 2127 Sur demande EMC 2127
Sophia Antipolis
EMS 761-A02/N 1375 Available EMS 761-A02/N 1375
Sophia Antipolis
Salle de lecture
EMS 761-A02/N 1375 Sur demande EMS01927D

Principles of electron optics. Electron diffraction. precipitation studies. The application of transmission electron microscopy to the study of plastic deformation. Scanning electron microscopy. Instrumentation in electron probe microanalysis. Quantitative microanalysis. Applications of electron probe microanalysis. Kossel X ray microdiffraction

Includes bibliographical references and index.

Powered by Koha