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Advanced tomographic methods in materials research and engineering [] / Edited by John Banhart,...

Auteur secondaire : : Banhart, John, Editeur scientifiquePublication :Oxford, New York : Oxford University Press, cop. 2008Description : 1 vol. (XXV-462 p.) : ill. en noir et en coul. ; 24 cm + 1 CD-ROMISBN : 978-0-19-921324-5 ; 0-19-921324-0.Dewey: 620.11272Bibliographie: Notes bibliogr. Index.Sujet - Nom d'actualité : Tomographie ;Matériaux -- Essais ;Contrôle non destructif Sujet : Matériau hétérogène ;Rayonnement synchrotron ;Tomographie
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 4563 Sur demande EMC 4563

Basic concepts. Synchrotron x-ray tomography. Electron tomography. Neutron tomography

Notes bibliogr. Index

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