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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]

Mention d'édition : 3ème éditionPublication : New York : Springer, cop. 2003Description : 1 vol. (XIX-690 p., [3] p. de pl.) : ill. (certaines en coul. ) ; 26 cm + 1 cédérom (12 cm)ISBN : 0-306-47292-9 ; 978-0-306-47292-3.Dewey: 502.825 ; 681.413Bibliographie: Réf. bibliogr. Index.Sujet - Nom d'actualité : Microscopie électronique à balayage ;Microanalyse par émission X ;Microanalyse par émission X Sujet : Argile ;Sol ;Polymère ;Biomatériau ;Céramique ;Métal ;Analyse quantitative ;Analyse qualitative ;Spectrométrie RX ;Microanalyse ;Microscopie électronique balayage
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 4631 Sur demande EMC 4631

Introduction. The SEM and its modes of operation. Electron beam-specimen interactions. Image formation and interpretation. Special topics in scanning electron micrsocopy. Generation of X-rays in the SEM specimen. X-ray spectral measurement EDS and WDS. Qualitative X-ray analysis. Quantitative X-ray analysis : the basics. Special topics in electron beam X-ray microanalysis. Specimen preparation of hard materials : metals, ceramics, rocks, minerals, microelectronic and packaged devices, particles and fibers. Specimen preparation of polymer materials. Ambient-temperature specimen preparation of biological material. Low temperature specimen preparation. Procedures for elimination of charging in nonconducting specimens

Réf. bibliogr. Index

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