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Les fondements des approches fréquentielle et bayésienne [Texte imprimé] : applications à la maîtrise du risque industriel / Henri Procaccia,... ; Institut pour la maîtrise des risques ; [préface de André Lannoy,...]

Auteur principal : Procaccia, Henri, AuteurAuteur secondaire : : Lannoy, André, Préfacier, etc.Auteur secondaire collectivité : Institut pour la maîtrise des risques, France, Directeur de la publicationPublication :Paris : Éd. Tec & doc : Lavoisier, DL 2008Description : 1 vol. (XIX-248 p.) : ill., graph. ; 24 cmISBN : 978-2-7430-1024-9.Collections : Sciences du risque et du dangerDewey: 519.5Bibliographie: Bibliographie p. 245. Index.Sujet - Nom d'actualité : Risques industriels -- Méthodes statistiques ;Fiabilité -- Méthodes statistiques ;Statistique bayésienne
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Bibliographie p. 245. Index

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