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DIFFRACTION X. / {J. Henon}

Auteur principal : HENON, Jean-PaulAuteur secondaire collectivité : ENSMP MAT, Centre des matériaux, Evry, EssonnePublication :300774, PARIS : Eyrolles, 1988Sujet : Diffraction RX ;Métallographie Sujet Catégorie : METHODOLOGIE-INSTRUMENTATION-MESURE-ANALYSE
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Paris
EMP 138.434 CCL.5441 Available

EXTR. DE:METHODES USUELLES DE CARACTERISATION DES SURFACES,CH. 16,P.182-201

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