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Les systèmes mécatroniques embarqués, 2, Analyse des causes de défaillances, modélisation, simulation et optimisation / sous la direction d'Abdelkhalak El Hami et Philippe Pougnet

Auteur secondaire : : El Hami, Abdelkhalak, 1962-...., chercheur en mécanique, Directeur de la publication;Pougnet, Philippe, Directeur de la publicationPublication : London : ISTE éditions, cop. 2015Description : 1 vol. (244 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cmISBN : 978-1-78405-059-7.Dewey: 621Bibliographie: Bibliogr. en fin de chapitres. Index.Sujet - Nom d'actualité : Mécatronique ;Mécatronique -- Fiabilité ;Mécatronique -- Simulation, Méthodes de ;Systèmes enfouis (informatique) -- Fiabilité ;Électronique ;Électronique de l'état solide -- Modèles mathématiques
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Paris
Salle de lecture
629.89 ELH s (2) Available vol. 2 EMP78760D

Bibliogr. en fin de chapitres. Index

Chapitre 1, Essais hautement accélérés associant température, vibrations et humidité Chapitre 2, Banc de vieillissement de transistors en conditions opérationnelles Chapitre 3, Analyse des défauts physiques des systèmes mécatroniques Chapitre 4, Effet de défauts lacunaires dans les matériaux d'interconnexion Chapitre 5, Modélisation électro-thermomécanique de systèmes mécatroniques Chapitre 6, Création de métamodèle Chapitre 7, Optimisation fiabiliste des systèmes électroniques embarqués Chapitre 8, Architecture haut rendement d'amplificateurs de puissance

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