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Méthodes et techniques nouvelles d'observation en métallurgie physique / édité par Bernard Jouffrey

Auteur secondaire : : Jouffrey, Bernard, Editeur scientifiqueAuteur secondaire collectivité : Société française de microscopie électronique, Editeur scientifiquePublication :Paris : Société française de microscopie électronique, 1972, cop. 1972 : Impr. C.I.B.Description : 1 vol. (XVI-546 p.) : ill., couv. ill. ; 27 cmBibliographie: Bibliogr. en fin de chaque contribution. Index.Sujet - Nom d'actualité : Métallographie électronique -- Actes de congrès ;Métallurgie physique -- Actes de congrès ;Microscopie électronique -- Actes de congrès
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Sophia Antipolis
Salle de lecture
EMS 761-A02/N 2 Sur demande EMS01986D

Bibliogr. en fin de chaque contribution. Index

Chapitre 1, Préparation des échantillons Chapitre 2, Les accessoires. Caractéristiques. Emploi Chapitre 3, Diverses approximations en théorie du comportement des électrons de 100 kV dans la matière Chapitre 4, Diffraction des électrons par les cristaux et image. Théorie cinématique Chapitre 5, Théorie dynamique pour les cristaux parfaits (traitement d'optique ondulatoire) Chapitre 6, Théorie dynamique de la diffraction des électrons dans un cristal parfait. Traitement à partir de la mécanique quantique Chapitre 7, Traitement phénoménologique de l'absorption Chapitre 8, Géométrie des défauts de structure bChapitre 9, Contraste des défauts par la théorie cinématique Chapitre 10, Traitement dynamique des défauts Chapitre 11, Défauts plans Chapitre 12, Structure fine des taches de diffraction Chapitre 13, Alliages ordonnés Chapitre 14, Constraste des images de dislocations en microscopie électronique Chapitre 15, Contraste des petits défauts Chapitre 16, Application de la microscopie électronique à l'étude des précipités Chapitre 17, Contraste des inclusions Chapitre 18, Microscopie électronique dispersive à l'aide de prismes magnétiques Chapitre 19, Éclairement de l'objet et techniques de contraste en microscopie électronique. Strioscopie. Contraste de phase Chapitre 20, Microscopie à haute tension Chapitre 21, L'optique géométrique et ondulatoire en microscopie de Lorentz Chapitre 22, Quelques applications de la microanalyse par émission ionique secondaire Chapitre 23, Utilisation de la microscopie à émission d'ions pour l'étude de très petits défauts cristallins Chapitre 24, La méthode de Lang Chapitre 25, Microsonde et microscope à balayage

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