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Accuracy in trace analysis [] : sampling, sample handling, analysis : proceedings of the 7th materials research symposium, held at the National Bureau of Standards, Gaithersburgh, Md., october 7-11, 1974 / Philip D. Lafleur, editor

Auteur secondaire : : LaFleur, Philip D., 193X-, Editeur scientifiqueAuteur secondaire collectivité : , National bureau of standards, Editeur scientifiquePublication : Washington : U.S. Government printing office, 1976Description : 2 vol. ([XXVI]-1304 p.) : ill. en noir et en coul., fig., graph., tabl ; 24 cmBibliographie: Références en fin de chapitre.Sujet - Nom d'actualité : Éléments traces -- Analyse -- Actes de congrès ;Chimie analytique -- Actes de congrès List(s) this item appears in: Don Amade
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Bib. Fontainebleau
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771862302:590097415 Don Emile Amade 2017

Références en fin de chapitre

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