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Caractérisation par spectroscopie de photoémission X et spectroscopie infrarouge en multi-réflexion interne des propriétés réactionnelles des surfaces de films minces d'oxydes mixtes à base de silice / par Olivier Pellegrino, par Olivier Pellegrino

Auteur principal : PELLEGRINO, OlivierAuteur secondaire collectivité : Université Pierre et Marie Curie, Paris, 1971-2017Publication : Paris : Université de Paris 6, 1995Description : 168 p. : Ill. ; 30 cmBibliographie: Bibliogr. p. 164-168.Thèse : .Sujet : Spectrométrie photoélectron ;Spectrométrie IR ;Oxyde mixte ;Interface solide solide ;Epoxyde résine ;Silice ;Couche mince ;Liaison chimique Sujet Catégorie : PHYSIQUE SOLIDE
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Paris
Magasin
EMP 144.033 CCL.TH.834 Available EMP40020D

Bibliogr. p. 164-168

Th. doct. Sci. des matér. Paris 6 1995

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