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/ {M. Thiry, F. Van oort}De l'échantillonnage à la spéciation : pertinence des analyses minéralogiques par diffraction des rayons X dans les sites et sols pollués par des métaux, Chap. IV

Auteur principal : Folkert, Van Oort;Thiry, MédardAuteur secondaire collectivité : Centre d'informatique géologique, Centre d'informatique géologiquePublication :ENSMP, 1999Description : p. 96-107 : Ill.Sujet : Analyse minérale ;Diffraction RX ;Friche industrielle ;Métal ;Pollution sol ;Site
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Bib. Fontainebleau
EMF 3904(420) Exclu du prêt EMF21675D
Bib. Paris
EMP 147.716 CCL.5760 Available EMP60289D
Bib. Paris
EMP 147.717 CCL.5760 Available EMP60288D

Extr. de : "Spéciation des métaux dans le sol", Les cahiers des clubs CRIN, Ministère de l'Aménagement du territoire et de l'environnement, p. 96-107

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