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Multiple-beam interference microscopy of metals / by S. Tolansky,.

Auteur principal : Tolansky, SamuelPublication :London, New York : Academic press, 1970Description : IX-147 p ; 23 cmISBN : 0-12-692650-6.Dewey: 669.9/5/0282Bibliographie: Bibliogr. : pp. 138-140.Sujet - Nom d'actualité : Microscopes interférentiels ;Métallographie Sujet : Métal ;Matériau Sujet Catégorie : MATERIAUX
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Paris
EMP 103.420 Available

Bibliogr. : pp. 138-140

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