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Intégration du logiciel Kate d'Acknosoft à l'analyse de défaillance de National Semiconductor / Dany Ginzburg, Dany Ginzburg

Auteur principal : GINZBURG, DanyAuteur secondaire collectivité : ENSMP DE, Direction des études;Centre de recherche en informatique, Fontainebleau, Seine et Marne, Centre de recherche en informatiquePublication : ENSMP, 2000Description : Pagination multiple ; 30 cmSujet : Aide décision ;Contrôle qualité ;Défaillance ;Logiciel ;Option systèmes d'information et ingénierie informatique ;Semiconductivité Sujet Catégorie : INFORMATIQUE-INTELLIGENCE ARTIFICIELLE
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Paris
EMP 148.536 CCL.5780 Available Travail d'option d'un élève de 3A réalisé à l'issue d'un stage effectué auprès de la société Acknosoft EMP60765D
Bib. Paris
EMP 148.537 CCL.5780 Available Travail d'option d'un élève de 3A réalisé à l'issue d'un stage effectué auprès de la société Acknosoft EMP60766D

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