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Contribution à l'étude par diffraction des rayons X et microscopie électronique des défauts de réseau dans les alliages alpha Cu-Sn après déformation plastique / Jean Mignot

Auteur principal : Mignot, Jean, AuteurAuteur secondaire : : Potier, Robert, Directeur de thèseAuteur secondaire collectivité : Université de Franche-comté, UFR des sciences et techniques, Organisme de soutenancePublication :[s.l] : [s.n], 1975Description : 1 vol (134 ff.) ; 30 cmDewey: 500Résumé : MISE EN EVIDENCE AU MOYEN DE CES DEUX METHODES D'ETUDE DE LA DISTRIBUTION ET DES INTERACTIONS DES DISLOCATIONS ET DES DEFAUTS D'EMPILEMENTS, LORS DE LA DEFORMATION PLASTIQUE. EVOLUTION DES PARAMETRES CARACTERISTIQUES DE L'ETAT DU RESEAU DEFORME EN FONCTION DU TAUX DE DEFORMATION ET DE LA TENEUR EN SOLUTE.Bibliographie: Bibliogr.Thèse : .Sujet - Nom d'actualité : Alliages ;Déformations (mécanique) -- Thèses et écrits académiques ;Rayons X -- Diffraction Sujet : Alliage non ferreux ;Métal non ferreux ;Métal ;Défaut réseau ;Structure cristalline ;Physique solide ;Matériau
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Bib. Paris
EMP 130.257 CCL.TH.274 Available

Bibliogr

Thèse physique Besançon 1975

MISE EN EVIDENCE AU MOYEN DE CES DEUX METHODES D'ETUDE DE LA DISTRIBUTION ET DES INTERACTIONS DES DISLOCATIONS ET DES DEFAUTS D'EMPILEMENTS, LORS DE LA DEFORMATION PLASTIQUE. EVOLUTION DES PARAMETRES CARACTERISTIQUES DE L'ETAT DU RESEAU DEFORME EN FONCTION DU TAUX DE DEFORMATION ET DE LA TENEUR EN SOLUTE

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