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/ S. Beauvais, V. Guipont, M. Jeandin [et al.]Study of the influence of microstrukture [sic] on electric properties of plasma-sprayed aluminia coatings using the scanning electron microscope mirror effect (SEMME), S. Beauvais, V. Guipont, M. Jeandin [et al.]

Auteur principal : BEAUVAIS, Sébastien;SAENGER, R.;Juvé, Daniel;Jeandin, Michel;Guipont, Vincent, 1965-....Auteur secondaire collectivité : ENSMP MAT, Centre des matériaux, Evry, EssonnePublication : ENSMP, 2004Description : 6 p. : Ill. ; 30 cmBibliographie: Bibliogr. p. 6.Sujet - Nom d'actualité : Alumine Sujet : Jet plasma ;Microscope électronique réflexion ;Propriété électrique Sujet Catégorie : MATERIAUX
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Paris
EMP 152.771 CCL.5911 Available EMP71313D

Extr. de : "ITSC 2004", Conference abstracts, International thermal spray solutions : advances in technology and application, Osaka, May 10-12, 2004

Bibliogr. p. 6

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