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10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis

Auteur principal collectivité : 10, 1983, CONGRES INTERNATIONAL D'OPTIQUE DES RAYONS X ET DE MICROANALYSE, 1983Auteur secondaire : : Castaing, Raymond, Préfacier, etc., 1921-1998Publication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMISBN : 2-902731-73-6.Sujet : Traitement signal ;Spectrométrie SIMS ;Spectrométrie RX ;Spectrométrie perte énergie ;Spectrométrie Auger ;Semiconducteur ;Optique électronique ;Microscopie RX ;Microscopie électronique balayage ;Microanalyse ;Matériau ;Automatisation ;Analyse surface ;Analyse quantitative ;Microsonde ;Microscopie électronique ;Spectrométrie RX
Current location Call number Status Notes Date due Barcode
Bib. Evry
EMC 2428 Sur demande Bibliotheque de Corbeil EMC 2428
Bib. Evry
EMC 2433 Sur demande Bibliotheque de Corbeil EMC 2433
Bib. Fontainebleau
Magasin
EMF 9038-8 Available

Le Journal de Physique Colloques, Vol. 45 No. C2 (Février 1984)

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