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Etude par topographie aux rayons X de la relaxation des contraintes en tête des fissures dans les cristaux de silicium [Texte imprimé] / Kheireddine El Badaoui

Auteur principal : El Badaoui, Kheireddine, AuteurAuteur secondaire collectivité : Université de Nancy I, Organisme de soutenancePublication : [S.l.] : [s.n.], 1976Description : 1 vol. (113 p.) : ill. ; 30 cmBibliographie: Bibliogr. p. 44-45.Thèse : .Sujet - Nom d'actualité : Silicium cristallisé -- Thèses et écrits académiques Sujet : Alliage non ferreux ;Métal non ferreux ;Défaut réseau ;Structure cristalline ;Physique solide ;Matériau ;Technique ;Méthode étude ;Appareillage
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Paris
EMP 132.006 CCL.TH.282 Available

Bibliogr. p. 44-45

Thèse Docteur-ingénieur Nancy 1 1976

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