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XRD and electron-microscopy investigations of layer silicates [ [Texte imprimé]] / préf., Robert F. Martin

Auteur secondaire : : Robert F., Martin, Préfacier, etc.Auteur secondaire collectivité : Association minéralogique du Canada, Editeur scientifiquePublication : Toronto (CAN) : Mineralogical association of Canada, 1998Description : P. 1395-1647 : Ill. ; 24 cmDewey: 549.6Bibliographie: Notes bibliogr..Sujet : Diagenèse ;Diffraction RX ;Kaolinite ;Microscopie électronique ;Particule fondamentale ;Smectite Sujet Catégorie : MINERALOGIE
Current location Call number Status Date due Barcode
Bib. Fontainebleau
Magasin
EMF P388(36:6) Available EMF14565D

Numéro thèmatique de "The canadian mineralogist", 1998, vol.36, part.6

Notes bibliogr.

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