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1. Congrès Automated technology for verification and analysis [Texte imprimé] : Third international symposium, ATVA 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005 : proceedings / Doron A. Peled, Yih-Kuen Tsay (Eds.)Publication : Berlin, New York, NY : Springer, cop. 2005Description : 1 vol. (XII-506 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Centre de recherche en informatique[TAI 05] (1).
2. Congrès Computer aided verification : 11th International Conference, CAV'99, Trento, Italy, July 6-10, 1999proceedings / Nicolas Halbwachs, Doron Peled (Eds.)Publication : Berlin, London : Springer, c1999Description : xii, 506 p. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Centre de recherche en informatique[TRE 99] (1).
3. Congrès Computer aided verification [ [Texte imprimé]] : 16th international conference, CAV 2004, Boston, MA, USA, July 13-17, 2004proceedings ; Rajeev Alur, Doron A. Peled (eds.)Publication : Berlin, New York : Springer, cop. 2004Description : 1 vol. (XII-536 p.) : Ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Fontainebleau[BOS 04] (1).
4. Congrès Model checking / Edmund M. Clarke,Jr., Orna Grumberg, and Doron PeledPublication : Cambridge (MA) : The MIT press, 1999Description : XIV-314 p. : Ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[CLA] (1).
5. Congrès Verification, model checking, and abstract interpretation [ [Texte imprimé]] ; edited by: Francesco Logozzo, Doron A. Peled, Lenore D. Zuck : 9th International conference, VMCAI 2008 San Francisco, USA, january 7-9, 2008. ProceedingsPublication : Berlin, Heidelberg : Springer, 2008Description : 1 vol. (X-323 p.) : Ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[SAN 08] (1).

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