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1. Congrès Automated technology for verification and analysis [Texte imprimé] : Third international symposium, ATVA 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005 : proceedings / Doron A. Peled, Yih-Kuen Tsay (Eds.)Publication : Berlin, New York, NY : Springer, cop. 2005Description : 1 vol. (XII-506 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Centre de recherche en informatique[TAI 05] (1).
2. Congrès Computer aided verification : 10th International Conference, CAV'98, Vancouver, BC, Canada, June 28 - July 2, 1998 : proceedings / Alan J. Hu, Moshe Y. Vardi (eds.)Publication : Berlin, London : Springer, c1998Description : ix, 552 p. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Centre de recherche en informatique[VAN 98] (1).
3. Congrès Proceedings 1999 : Design Automation Conference, 36th, Ernest N. Morial Convention Center, New Orleans, LA, June 21-25, 1999 / sponsored by ACM...[et al]Publication : New York : Association for Computing Machinery, c1999Description : xxxii, 1003 p. : ill. ; 28 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[NEW 99] (1).
4. Thèses Projet Beamformines [ [Texte imprimé]] / Maxime Barthélémy ; Sofia Berrada, Martin De Gourcuff, François De La Taste, Mageri Filali Maltouf, Tomasz Gorecki, Romain Goussault, Adrien Guémy, Pierre Houël, Maxime Lambert, Quentin Pujol D'Andrebo, Clément Walter Publication : Paris : ENSMP, 2009Description : 1.vol.(81 p.) + annexes : Figures, listings ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 175.409 CCL.6116] (1).
5. Thèses / {P. Couronne}Le système ESTEREL V2Publication : Paris : Université de Paris 7, 1989Description : 159 p. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 141.264 CCL.TH.705] (1).

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