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1.  Monographies, textes Analyse structurale et chimique des matériaux : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...Publication : Paris : Dunod • C 1989Description : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3018] (2). Checked out (1).
2. Congrès Microcaractérisation des solides : méthodes d'observation et d'analyse / édité par Michel Ammou ; préface de Pierre VermeulinPublication : Valbonne (Alpes-Maritimes) : CRAM : LPSES : CNRS, impr. 1989Description : 1 vol. (541 p.) : ill. ; 22 cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 11216] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3062] (1). Checked out (1).

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