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1.  Monographies, textes Analyse structurale et chimique des matériaux [] : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...Publication : Paris : Dunod, cop. 1989, 54-Nancy : Impr. Berger-LevraultDescription : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill.en coul. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3018] (2). Checked out (1).
2. Congrès Modern diffraction and imaging techniques in material science [Texte imprimé] : proceedings of the international summer course on material science, held at Antwerp, Belgium, 28 July-8 August 1969, and sponsored by NATO Scientific affairs division / editors, S. Amelinckx, R. Gevers, G. Remaut... [et al]Publication : Amsterdam, London : North-Holland Pub. Co., cop. 1970Description : 1 vol. (VIII-745 p.) : ill. ; 23 cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 761-A02/N 152] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 598] (1).

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