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1.  Monographies, textes Computer-related risks / Peter G. NeumannPublication :New York, New York : ACM Press, Reading, Mass. : Addison-Wesley, 1995Description : xv, 367 p. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI200-1703] (1).
2. Thèses EVALUATION DE LA FIABILITE DU LOGICIEL A L'AIDE DE L'ANALYSE STATISTIQUE DE SES MESURES DE COMPLEXITE. / {J. Albin}Publication :s.l. : s.n., 1982Description : 01 VOL.,115 P. : PR 6 ; 29 CMAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI1643] (1).
3.  Monographies, textes Fiabilité du logiciel [] : concepts, modélisations, perspectives / Jean-Pierre FournierPublication :Paris : Hermès, impr. 1993, Impr. en Grande-BretagneDescription : 1 vol. (309 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP C 155B (94NJ00066)] (1).
4.  Monographies, textes Handbook of software engineering [] / edited by C.R. Vick, C.V. RamamoorthyPublication :New York : Van Nostrand Reinhold Co., c1984Description : 1 vol. (XXXIII-683 p.) : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI2901] (1).
5. Congrès Proceedings of SSR'01 : 2001 Symposium on Software Reusability, "Putting Software Reuse in Context", Toronto, Ontario, Canada, May 18-20, 2001 / sponsored by ACM/SIGSOFTPublication :New York, N.Y. : ACM Press, c2001Description : vi, 177 : ill. ; 28 cmAvailability: Copies available for loan: Centre de recherche en informatique[TOR 01] (1).
6. Congrès Proceedings of the 23rd International Conference on Software Engineering [Texte imprimé] : ICSE 2001 : 12-19, May 2001, Toronto, Ontario, Canada / IEEE Computer SocietyPublication :Los Alamitos Calif. : IEEE Computer Society, 2001Description : XXIX-844 p. : ill. ; 28 cmAvailability: Copies available for loan: Centre de recherche en informatique[TOR 01] (2).
7. Congrès Production and assessment of numerical software [Texte imprimé] / edited by M. A. Hennell, L. M. DelvesPublication :London, New York : Academic Press, 1980Description : 1 vol. (X-386 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI1059] (1).
8. Congrès Program test methods / Edited by William C. HetzelPublication :Englewood Cliffs, N.J. : Prentice-Hall, [1973]Description : ix, 311, [41] p. : illus. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI1047] (1).
9. Congrès SIGSOFT 2004/FSE-12 : twelfth ACM SIGSOFT international symposium on the foundations of software engineering : october 31 - november 5, 2004, Newport Beach, California, USA / ed. by Matthew DwyerPublication :New York : ACM, 1515, Broadway N.Y. 10036, 2004Description : VIII-276 p. : Ill. ; 28 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[NEW 04] (1).
10.  Monographies, textes Software engineering [] : design, reliability, and management / Martin L. ShoomanPublication :New York : McGraw-Hill, cop.1983Description : 1 vol. (xx, 683 p.) : ill. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI2024] (1).
11.  Monographies, textes Software reliability : measurement, prediction, application / John D. Musa, Anthony Iannino, Kazuhira OkumotoPublication :New York : McGraw-Hill, c1987Description : xvii, 621 p. : ill. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Centre de recherche en informatique[EM AI CI3508] (1).

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