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1. Congrès Comptes rendus des travaux du séminaire sur les méthodes d'analyse et de caractérisation des couches minces [Texte imprimé] / organisé aux Arcs-Bourg-Saint Maurice, du 23 au 27 janvier 1978 par la Société française du videSet Level : , ˜Le œVide, les couches minces, Suppl. au n° 189, 1978Publication :Paris : S.F.V, 1978Description : 1 vol. (276 p.) : ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1844] (1).
2.  Monographies, textes Fundamentals of surface and thin film analysis [] / Leonard C. Feldman,... James W. Mayer,...Publication :New York (N. Y.), [etc.] : North -Holland, cop. 1986Description : 1 vol. (xviii-352 p.) : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2724] (1).

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