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1.  Monographies, textes Analyse structurale et chimique des matériaux [] : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...Publication : Paris : Dunod, cop. 1989, 54-Nancy : Impr. Berger-LevraultDescription : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill.en coul. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3018] (2). Checked out (1).
2. Congrès Characterization of materialsPublication : Weinheim : VCH, 1992Description : 724 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3427] (1).
3.  Monographies, textes Microprobe techniques in the earth sciences [] / ed. by Philip J. Potts,... John F. W. Bowles,... Stephen J. B. Reed,... and Mark R. Cave,...Publication : London : Chapman and Hall, 1995Description : XI-419 p : ill ; 24 cmAvailability: No copies available Checked out (1).
4. Congrès Microscopie électronique à balayage et microanalyses [Texte imprimé] / École d'été de Saint Martin d'Hères 2006 ; publication du Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microAnalyses ; éditée par François Brisset ; en collaboration avec Monique Repoux, Jacky Ruste, François Grillon... [et al.]Publication : Les Ulis : EDP Sciences, cop. 2008Description : 1 vol. (XXXVI-892 p.) : ill. en noir et en coul., couv. ill. en noir et en coul. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4656] (3). Checked out (2).
5. Congrès Physical methods in chemical analysisPublication : New York : Academic Press, 1950/1951Description : 2 vol.,664 p., 640 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3352] (1).

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