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1.  Monographies, textes Analyse structurale et chimique des matériaux [] : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...Publication :Paris : Dunod, cop. 1989, 54-Nancy : Impr. Berger-LevraultDescription : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill.en coul. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3018] (2). Checked out (1).
2. Congrès Characterization of materialsPublication :Weinheim : VCH, 1992Description : 724 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3427] (1).
3.  Monographies, textes Developments in Composite Materials, 2, stress analysis [] / C. S. HolisterPublication :London : Applied Science Publishers Ltd, 1977Description : 1 vol. (207 p.) : ill. ; 22 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2314] (1).
4.  Monographies, textes Méthodes usuelles de caractérisation des surfaces [] / Société Française de Métallurgie ; [réd. par] Daniel David, Renaud Caplain ; avec la collaboration de B. Agius, A. Hugot Le Goff, F. Armanet... [et al.]Publication :Paris : Eyrolles, 1988Description : 1 vol. (XVI-374 p.) : ill., couv. ill. en coul. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2821] (2).
5. Congrès Microscopie électronique à balayage et microanalyses [Texte imprimé] / École d'été de Saint Martin d'Hères 2006 ; publication du Groupement national de microscopie électronique à balayage et de microAnalyses ; éditée par François Brisset ; en collaboration avec Monique Repoux, Jacky Ruste, François Grillon... [et al.]Publication :Les Ulis : EDP Sciences, cop. 2008Description : 1 vol. (XXXVI-892 p.) : ill. en noir et en coul., couv. ill. en noir et en coul. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4656] (3). Checked out (2).

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