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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Congrès Cracow 12 ICXOM : 12th Internatioal Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 28 Aug-1 Sept, 1989 / organized by Faculty of Structural Analysis, Institute of Metallurgy, Academy of Mining and MetallurgyPublication :Krakow, Poland : Academy of Mining and Metallurgy, c1989Description : 2 v. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3134] (1).
3.  Monographies, textes Electron microscopy society of America.46Publication :San Francisco : San Francisco press, 1988Description : 1022 p. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2899] (1).
4. Congrès Microanalyse et microscopie électronique à balayage [Texte imprimé] / École d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 ; publiée sous la direction de F. Maurice, L. Meny et R. Tixier...Publication :Orsay, Av. du Hoggar, zone industrielle de Courtabœuf, B.P. 112, 91402 : Éditions de Physique, 1979, Paris : impr. JouveDescription : 1 vol. (XXX-534 p.) : ill., couv. ill. en coul ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 106.163] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2431] (3), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 560] (1).
5.  Monographies, textes Practical analytical electron microscopy in materials science / David B. WilliamsPublication :Mahwah, New Jersey : Philips Electronic Instruments, 1984Description : iii, 153 p. : ill. ; 28 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2780] (1).
6.  Monographies, textes Propriétés morphologiques multi échelles et prévision du oomportement diélectrique de nanocomposites / Maxime Moreaud, Dominique Jeulin, Maxime Moreaud, Dominique JeulinPublication :Fontainebleau : ENSMP, 2004Description : [26 p.] : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Paris[CONFIDENTIEL] (1).
7.  Monographies, textes Scanning electron microscopy [] : physics of image formation and microanalysis / Ludwig ReimerPublication :Berlin, [etc.] : Springer, cop. 1998Description : 1 vol. (XIV-457 p.) : ill. ; 24 cm.Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4392] (1).
8. Congrès Sixth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] : Osaka, [September 5-10, 1971] proceedings / Edited by G. Shinoda, K. Kohra and T. IchinokawaPublication :[Tokyo] : University of Tokyo Press, [1972]Description : XI- 908 p. : ill. ; 27 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19900-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1438] (1).
9.  Monographies, textes The use of the scanning electron microscope [] / by J. W. S. Hearle, J. T. Sparrow, and P. M. CrossPublication :Oxford, New York, Toronto [etc.] : Pergamon Press, cop. 1972Description : xi, 278 p. : ill. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2206] (1).

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