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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Congrès Cracow 12 ICXOM : 12th Internatioal Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 28 Aug-1 Sept, 1989 / organized by Faculty of Structural Analysis, Institute of Metallurgy, Academy of Mining and MetallurgyPublication :Krakow, Poland : Academy of Mining and Metallurgy, c1989Description : 2 v. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3134] (1).
3.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
4.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London, New York : Chapman & Hall, c1994Description : VI-272 p. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3540] (1).
5. Congrès Electron emission spectroscopy [Texte imprimé] : proceedings of the NATO Summer Institute held at the University of Gent, August 28-September 7, 1972 / Ed. by W. Dekeyser [et al.]Publication :Dordrecht, Boston : D. Reidel Pub. Co., cop. 1973Description : 1 vol. (viii-507 p.) : ill. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1357] (1).
6.  Monographies, textes Electron microscopy.1980.vol.3 : AnalysisPublication :Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2146] (1).
7.  Monographies, textes Electron spectroscopy : theory, techniques and applications / ed. by C. R. Brundle and A. D. BakerPublication :London [etc.] : Academic Press, 1977-...Description : ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2207] (1).
8.  Monographies, textes Fundamentals of surface and thin film analysis [] / Leonard C. Feldman,... James W. Mayer,...Publication :New York (N. Y.), [etc.] : North -Holland, cop. 1986Description : 1 vol. (xviii-352 p.) : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2724] (1).
9.  Monographies, textes ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11Publication :S.l. : S.n., 1987Description : 535 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2727] (1).
10. Congrès Microanalyse et microscopie électronique à balayage [Texte imprimé] / École d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 ; publiée sous la direction de F. Maurice, L. Meny et R. Tixier...Publication :Orsay, Av. du Hoggar, zone industrielle de Courtabœuf, B.P. 112, 91402 : Éditions de Physique, 1979, Paris : impr. JouveDescription : 1 vol. (XXX-534 p.) : ill., couv. ill. en coul ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 106.163] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2431] (3), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 560] (1).
11.  Monographies, textes Microbeam analysis.1985Publication :San Francisco : San Francisco press, 1985Description : 383 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2632] (1).

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