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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Articles / E. Darque-Ceretti, R. Combarieu, M. AucouturierAbout SIMS analysis of organic materials [ [Texte imprimé]]Publication :ENSMP, 1999Description : P. 141-159 : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.447 CCL.5777] (1).
3. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication :Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
4.  Monographies, textes Electron microscopy.1980.vol.3 : AnalysisPublication :Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2146] (1).
5.  Monographies, textes Fundamentals of surface and thin film analysis [] / Leonard C. Feldman,... James W. Mayer,...Publication :New York (N. Y.), [etc.] : North -Holland, cop. 1986Description : 1 vol. (xviii-352 p.) : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2724] (1).
6.  Monographies, textes ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11Publication :S.l. : S.n., 1987Description : 535 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2727] (1).
7. Congrès Microanalyse et microscopie électronique à balayage [Texte imprimé] / École d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 ; publiée sous la direction de F. Maurice, L. Meny et R. Tixier...Publication :Orsay, Av. du Hoggar, zone industrielle de Courtabœuf, B.P. 112, 91402 : Éditions de Physique, 1979, Paris : impr. JouveDescription : 1 vol. (XXX-534 p.) : ill., couv. ill. en coul ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 106.163] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2431] (3), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 560] (1).
8.  Monographies, textes Microbeam analysis.1988Publication :San Francisco : San Francisco press, 1988Description : 528 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2874] (1).
9.  Monographies, textes Microstructural and microanalytical techniques in materials sciencePublication :Les Ulis : Editions de physique, 1995Description : 443-701 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC] (1).

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